薄膜材料与技术入门试题及评分标准.pdf

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薄膜材料与技术入门试题含评分标准

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膜解析光学厚度是薄膜物理厚度与折射率的乘积它决定了薄膜对光的干涉效应解析拉伸强度是衡量材料抵抗拉伸破坏能力的指标常用于估薄膜的力学性能解析薄二氧化硅层常用作半导体器件的栅极绝缘层解析椭偏仪法基于椭偏测量原理主要用于测量透明或半透明薄膜的厚度

一、选择题(每题2分,共20分)

1.以下哪种材料或结构通常被称为薄膜?

A.块体金属锭

B.金

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