航空电子过程管理 大气辐射影响 对航空电子产品中质子、电子、π介子、μ介子、α射线导致单粒子效应.pdfVIP

航空电子过程管理大气辐射影响第8部分：对航空电子产品中

质子、电子、π介子、μ介子、α射线导致单粒子效应的考虑

1范围

本文件旨在提供关于小粒子（即质子、电子、π介子和μ介子通量）和单粒子效应对在60000ft

（18300m）高度飞行的飞机上使用的航空电子设备的影响的认识和指导。这是一个新兴的研究方向，

缺乏实质性的数据支持。本文件旨在帮助航空航天或地面电子设备设计者和制造商，为这一新兴的研究

方向提供认识和指导。

本文件提供了辐射环境的详细信息，确定了由于接收大气辐射而引起的潜在问题，并给出了电子元

器件中单粒子效应（SEE）率评估的定量方法。

注1：总体系统安全方法通常得到扩展，以适应单一事件影响率，并证明电子产品是否适合在电子元件、电子设备

和系统一级应用。

注2：在本文件中，“电子装置”和“电子部件”两术语可互换使用。

本文件适用于航空电子工业领域，但其他工业领域也可酌情使用。

2规范性引用文件

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，

仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本

文件。

IEC62396-1:2016航空电子设备的过程管理大气辐射效应第1部分：