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相控阵探伤仪调试工程师岗位招聘考试试卷及答案

试题部分

一、填空题（共10题，每题1分）

1.相控阵探伤仪的核心控制部件是________，用于调节阵元发射/接收延迟。

2.相控阵声束聚焦依赖各阵元的________差异实现叠加。

3.常用相控阵探头阵元排列形式为________和二维阵列。

4.国内相控阵探伤通用标准是GB/T________（非破坏性检测相控阵超声检测方法）。

5.相控阵探伤中，楔块的主要作用是调整声束________。

6.线性扫查适用于检测________于扫查方向的缺陷。

7.探伤前需校准________，确保声程与显示深度一致。

8.阵元数量越多，声束________能力越强。

9.相控阵数据存储常用格式为________和ASCII。

10.调试关键参数包括聚焦深度、________和增益。

二、单项选择题（共10题，每题2分）

1.相控阵与常规超声探伤的核心区别是（）

A.探头类型不同B.动态聚焦C.耦合剂不同D.速度更快

2.聚焦深度调整依据是（）

A.探头频率B.缺陷位置C.工件厚度D.阵元数量

3.阵元过少会导致（）

A.聚焦差B.范围小C.噪声大D.耦合难

4.耦合剂选择核心是（）

A.粘度B.声阻抗匹配C.价格D.颜色

5.延迟法则用于（）

A.控制声束角度B.调增益C.存数据D.显示图像

6.缺陷定位依据是（）

A.波幅B.声程时间C.扫