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CN119731529A X射线检查装置及x射线检查方法 （东丽株式会社）.docxVIP

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  • 2026-06-16 发布于山西
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CN119731529A X射线检查装置及x射线检查方法 （东丽株式会社）.docx

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN119731529A

    (43)申请公布日2025.03.28

    (21)申请号202380058987.X

    (22)申请日2023.08.03

    (30)优先权数据

    2022-1325492022.08.23JP

    (85)PCT国际申请进入国家阶段日2025.02.10

    (86)PCT国际申请的申请数据

    PCT/JP2023/0284472023.08.03

    (87)PCT国际申请的公布数据

    WO2024/043034JA2024.02.29

    (71)申请人东丽株式会社

    地址日本东京中央区日本桥室町2丁目

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