CN119738697A 一种硒鼓芯片批量检测方法 （广州市达远智能办公设备有限公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119738697A

(43)申请公布日2025.04.01

(21)申请号202510251897.3

(22)申请日2025.03.05

(71)申请人广州市达远智能办公设备有限公司

地址510000广东省广州市天河区车陂西

路206号二楼201房

(72)发明人温乾宏

(74)专利代理机构广州科跃云专利商标代理事务所(普通合伙)44919

专利代理师杨雨豪

(51)Int.Cl.

G01R31/28(2006.01)

G06F11/3668(2025.01)

权利要求书2页说明书5页

(54)发明名称

一种硒鼓芯片批量检测方法

(57)摘要

CN119738697A本发明涉及硒鼓芯片检测技术领域，公开了一种硒鼓芯片批量检测方法，包括以下步骤：S1：确定检测目标与标准；S2：搭建虚拟化环境；S3：准备模拟测试环境；S4：芯片测试；S5：模拟使用场景测试；S6：收集测试数据；S7：分析测试结果；S8：实际抽查检测；S9：结果对比；S10：重复检测，本发明利用虚拟化技术和模拟测试相互结合的方式，利用虚拟化技术创建多个虚拟检测环境，并在每个环境中运行模拟测试软件，通过模拟测试软件模拟硒鼓芯片的工作状态和检测流程，验证检测软件的准确性和可靠性，根据模拟测试结果，对检测流程