1. 您所在位置：
  2. 网站首页
  3. 文档分类
  4. 行业资料
  5. 家电行业

CN119758016A 半导体器件的失效诊断方法 （北京中科新微特科技开发股份有限公司）.docxVIP

  • 1
  • 0
  • 约1.42万字
  • 约 24页
  • 2026-06-20 发布于山西
  • 举报

CN119758016A 半导体器件的失效诊断方法 （北京中科新微特科技开发股份有限公司）.docx

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN119758016A

    (43)申请公布日2025.04.04

    (21)申请号202510264938.2

    (22)申请日2025.03.06

    (71)申请人北京中科新微特科技开发股份有限公司

    地址100012北京市朝阳区北苑路58号楼

    17层1702房间

    (72)发明人王丹丹张丹阳李庆张彦飞刘梦新温霄霞

    (74)专利代理机构北京东方亿思知识产权代理有限责任公司11258

    专利代理师娜拉

    (51)Int.Cl.

    G01R31/26(2020.01)

    权利要求书2页说明

    您可能关注的文档

    最近下载

    文档评论（0）

    1亿VIP精品文档

    更多 >

    相关文档

    更多 >