CN119780535A 一种通孔测试结构、测试方法及集成电路 (合肥晶合集成电路股份有限公司).docxVIP

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  • 2026-06-24 发布于山西
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CN119780535A 一种通孔测试结构、测试方法及集成电路 (合肥晶合集成电路股份有限公司).docx

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119780535A

(43)申请公布日2025.04.08

(21)申请号202510293882.3

(22)申请日2025.03.13

(71)申请人合肥晶合集成电路股份有限公司

地址230012安徽省合肥市新站区合肥综

合保税区内西淝河路88号

(72)发明人马盟鲍丙辉李倩娣黄昊鹏

(74)专利代理机构上海汉之律师事务所31378

专利代理师李友智

(51)Int.Cl.

G01R27/16(2006.01)

G01R31/28(2006.01)

权利要求书2页

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