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CN119780119A 基于多光谱成像的电子元器件外观缺陷检测方法及系统 （中国电子科技集团公司第四十一研究所）.docxVIP

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  • 2026-06-25 发布于山西
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CN119780119A 基于多光谱成像的电子元器件外观缺陷检测方法及系统 （中国电子科技集团公司第四十一研究所）.docx

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN119780119A

    (43)申请公布日2025.04.08

    (21)申请号202510057489.4

    (22)申请日2025.01.14

    (71)申请人中国电子科技集团公司第四十一研究所

    地址266555山东省青岛市经济技术开发

    区香江路98号

    (72)发明人杜志强韩顺利朱军锋张桂鸣蒋金春李成瑞胡晓宁

    (74)专利代理机构济南圣达知识产权代理有限

    公司37221

    专利代理师吴喜梅

    (51)Int.Cl.

    G01N21/95(2006.01)

    G06V10/2

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