CN119816716A 光学特性测定系统及光学特性测定方法 （住友电气工业株式会社）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119816716A

(43)申请公布日2025.04.11

(21)申请号202380063229.7

(22)申请日2023.06.30

(30)优先权数据

2022-1419332022.09.07JP

(85)PCT国际申请进入国家阶段日2025.02.28

(86)PCT国际申请的申请数据

PCT/JP2023/0244372023.06.30

(87)PCT国际申请的公布数据

WO2024/053224JA2024.03.14

(71)申请人住友电气工业株式会社地址日本大阪

(72)发明人小林优斗长谷川健美林哲也

(74)专利代理机构北京康信知识产权代理有限责任公司11240

专利代理师赵曦

(51)Int.Cl.

G01M11/02(2006.01)

权利要求书3页说明书22页附图12页

(54)发明名称

光学特性测定系统及光学特性测定方法

(57)摘要

CN119816716A本公开的光学特性测定系统具备：光源，能够使脉冲光入射到多芯光纤的第一纤芯；光接收器，能够接收来自多芯光纤的第二纤芯的第二后向散射光；以及运算装置，至少基于第二后向散射光的光强度计算后向散射串扰指标。运算装置包括：数据处理部，与从一端起到测定位置为止的各位置相对应