CN119820822A 用于监控薄膜幅材厚度轮廓的方法和装置 (温德默勒及霍乐沙两合公司).docxVIP

  • 0
  • 0
  • 约1.38万字
  • 约 25页
  • 2026-07-02 发布于山西
  • 举报

CN119820822A 用于监控薄膜幅材厚度轮廓的方法和装置 (温德默勒及霍乐沙两合公司).docx

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119820822A

(43)申请公布日2025.04.15

(21)申请号202510124203.X

(22)申请日2019.11.05

(30)优先权数据

102018127671.02018.11.06DE

(62)分案原申请数据

201980071369.22019.11.05

(71)申请人温德默勒及霍乐沙两合公司地址德国伦格里希

(72)发明人托尔斯滕·施米茨瓦尔德马·科勒尔

贝恩德-亚历山大·格勒佩尔

(74)专利代理机构华进联合专利商标代理有限

公司44224

专利代理师易皎鹤

(51)Int.Cl.

B29C48/31(2019.01)

B29C48/92(2019.01)

B29C48/08(2019.01)

B29C48/21(2019.01)B29L7/00(2006.01)

权利要求书2页说明书7页附图7页

(54)发明名称

用于监控薄膜幅材厚度轮廓的方法和装置

(57)摘要

CN119820822A本发明涉及一种借助用于调设平膜机(100)的出口喷嘴(110)的缝隙开口(112)的多个调节机构(120)来监控薄膜幅材(FB)的沿横向(QR)的厚度轮廓(DP)的方法,具有以下步骤:检测横向于平膜机(100)的生产方向

您可能关注的文档

文档评论(0)

1亿VIP精品文档

相关文档