CN119827933A 一种半导体分立器件的测试装置、系统、方法 （中车株洲电力机车研究所有限公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119827933A

(43)申请公布日2025.04.15

(21)申请号202311326571.X

(22)申请日2023.10.12

(71)申请人中车株洲电力机车研究所有限公司

地址412001湖南省株洲市石峰区时代路

169号

(72)发明人王磊刘辉江江永爱易君谓

冯丽莎谭承旦魏晓慧黄跃飞

(74)专利代理机构北京集佳知识产权代理有限

公司11227

专利代理师刘源

(51)Int.Cl.

G01R31/26(2020.01)

权利要求书2页说明书7页附图1页

(54)发明名称

一种半导体分立器件的测试装置、系统、方

法

(57)摘要

CN119827933A本申请公开了一种半导体分立器件的测试装置、系统、方法，涉及测试领域，该测试装置包括：加速试验板，所述加速试验板上设有多个安装部，多个待测器件可拆卸地、一一对应安装在多个所述安装部；物料测试组件，用于基于物料测试指令对所述加速试验板上的每个所述待测器件进行加速环境试验前的第一物料参数及进行所述加速环境试验后的第二物料参数进行检测；包括箱体的环境试验箱，用于当所述加速试验板放置在所述箱体内，根据接收到的加速环境试验指令，调整所述箱体内的温度，以对所述加速试验板上固定的待测