CN119827498A 瑕疵检测方法、瑕疵检测设备及存储介质 （鸿海精密工业股份有限公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119827498A

(43)申请公布日2025.04.15

(21)申请号202311287786.5

(22)申请日2023.10.07

(71)申请人鸿海精密工业股份有限公司

地址中国台湾新北市土城区中山路66号

(72)发明人庄志远

(74)专利代理机构深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司44334

专利代理师饶智彬

(51)Int.Cl.

G01N21/88(2006.01)

G01N21/01(2006.01)

G01N1/34(2006.01)

权利要求书2页说明书9页附图4页

(54)发明名称

瑕疵检测方法、瑕疵检测设备及存储介质

(57)摘要

CN119827498A本申请涉及产品检测领域，提供一种瑕疵检测方法、瑕疵检测设备及存储介质，所述方法获取待检测产品的第一图像以及所述第一图像的第一瑕疵检测结果；对所述待检测产品进行清洁，并获取清洁后的所述待检测产品的第二图像以及所述第二图像的第二瑕疵检测结果；基于所述第一瑕疵检测结果与所述第二瑕疵检测结果，确定所述待检测产品的第三瑕疵检测结果。利用

CN119827498A

CN119827498A权利要求书