CN119780921A 基于权向量优化的镜像综合孔径辐射计成像方法及系统 (深空探测实验室(天都实验室)).pdfVIP

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  • 2026-07-04 发布于重庆
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CN119780921A 基于权向量优化的镜像综合孔径辐射计成像方法及系统 (深空探测实验室(天都实验室)).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119780921A

(43)申请公布日2025.04.08

(21)申请号202411829085.4

(22)申请日2024.12.12

(71)申请人深空探测实验室(天都实验室)

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