CN119834804A 一种高速高精adda芯片的测试方法 (北京中天星控科技开发有限公司成都分公司).docxVIP

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  • 2026-07-06 发布于山西
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CN119834804A 一种高速高精adda芯片的测试方法 (北京中天星控科技开发有限公司成都分公司).docx

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119834804A

(43)申请公布日2025.04.15

(21)申请号202510311784.8

(22)申请日2025.03.17

(71)申请人北京中天星控科技开发有限公司成都分公司

地址610095四川省成都市高新区吉泰路

20号1号楼2层

(72)发明人魏力陈小波

(74)专利代理机构四川海慧新诚专利代理有限

公司51401

专利代理师朱丹

(51)Int.Cl.

H03M1/10(2006.01)

权利要求书2页说明书7页附图2页

(54)发明名称

一种高速高精ADDA芯片的测试方法

(57)摘要

CN119834804A本发明公开了一种高速高精ADDA芯片的测试方法,涉及芯片测试技术领域,关于硬件部分:通过在现有测试机台上进行扩展,增加PC机、待测芯片、FPGA板卡、配套测试板及高精度信号源,且约定测试机台与FPGA板卡间的通信协议,实现对不同FPGA板卡的调用,从而能对多个待测芯片进行相应测试;关于软件部分:通过在PC机中设计测试机台函数库集合、FPGA功能函数集合及VISA信号源控制函数集合,通过测试机台函数库集合,实现配套测试板上电、FPGA板卡校验及待测芯片的基本功能测试,通过FPGA功能函数集合,实现对待测芯片的高速功能测试,通过VIS

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