CMOS面试问题精解:闩锁效应、噪声容限与延迟控制.pdfVIP

  • 1
  • 0
  • 约1.25万字
  • 约 6页
  • 2026-07-16 发布于北京
  • 举报

CMOS面试问题精解:闩锁效应、噪声容限与延迟控制.pdf

1)什么是闩锁效应?

闩锁效应是指在电路中意外形成寄生晶闸管(如寄生硅控整流器,或SCR),一旦该晶闸

管被意外触发或开启,将导致大量电流持续通过。根据涉及的电路不同,这种机制产生的

电流可能足够大,导致设备因电气过应力(EOS)而永久损坏。

2)为什么在制造过程中更倾向于使用与非门而不是或非门?

与非门比或非门更适合设计,因为在晶体管级别上,电子的迁移率通常是空穴的三倍,因此与

非门的速度更快。

__

此,与非结构中的栅极泄漏要低得多。如果你考虑thl和tlh延迟,你

文档评论(0)

1亿VIP精品文档

相关文档