CN119650452A 存储结构的失效分析方法、存储结构的失效分析装置、计算机可读存储介质以及终端 (浙江创芯集成电路有限公司).pdfVIP

  • 2
  • 0
  • 约1.89万字
  • 约 18页
  • 2026-07-17 发布于重庆
  • 举报

CN119650452A 存储结构的失效分析方法、存储结构的失效分析装置、计算机可读存储介质以及终端 (浙江创芯集成电路有限公司).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119650452A

(43)申请公布日2025.03.18

(21)申请号202411795879.3

(22)申请日2024.12.06

(71)申请人浙江创芯集成电路有限公司

地址311200浙江省杭州市萧山区宁围街

道平澜路2118号浙江大学杭州国际科

创中心水博园区11幢4层-5层(自主申

报)

(72)发明人姚阳光崔云龙钟佳玲黎美玲

(74)专利代理机构北京集佳知识产权代理有限

公司11227

专利代理师李慧慧

(51)Int.Cl.

H01L21/66(2006.01)

G11C29/00(2006.01)

您可能关注的文档

文档评论(0)

1亿VIP精品文档

相关文档