CN120064945A 基于自动化设备的芯片性能测试方法及系统 （蓝芯存储技术(赣州)有限公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN120064945A

(43)申请公布日2025.05.30

(21)申请号202510526299.2

(22)申请日2025.04.25

(71)申请人蓝芯存储技术（赣州）有限公司

地址341000江西省赣州市赣州经济技术

开发区江西（赣州）跨境电商产业园

（振兴大道）三期6#楼1楼

(72)发明人庄晓鹏郑传锋江雄谢院生

(74)专利代理机构深圳汉林汇融知识产权代理事务所(普通合伙)44850

专利代理师刘临利

(51)Int.Cl.

G01R31/28(2006.01)

G01R35/00(2006.01)

G06N3/045(2023.01)

G06N3/084(2023.01)

权利要求书3页说明书15页附图1页

(54)发明名称

基于自动化设备的芯片性能测试方法及系

统

(57)摘要

CN120064945A本发明提供了一种基于自动化设备的芯片性能测试方法及系统，该方法包括：将待测芯片通过探针卡连接至测试通道，对探针卡电源分配层中的多个电压传感器节点进行采样，获取电源轨电压分布数据；通过预设神经网络模型根据电源轨电压分布数据和测试向量序列计算电源轨压降预测数据；根据预测数据对测试板上的多级并行电容阵列进行补偿控制，并在此控制下执