GBZ 37664.3-2025 纳米制造　关键控制特性　发光纳米材料　第3部分：时间相关单光子计数法测量半导体量子点的荧光寿命标准立项发展报告.docx

纳米制造关键控制特性发光纳米材料第3部分：时间相关单光子计数法测量半导体量子点的荧光寿命标准立项发展报告

EnglishTitle

StandardizationDevelopmentReport:Nanomanufacturing-KeyControlCharacteristics-LuminescentNanomaterials-Part3:Time-CorrelatedSinglePhotonCountingMethodforMeasuringFluorescenceLifetimeofSemiconductorQuantumDots

摘要

关键词

纳米制造；发光纳米材料；半导体量子点；荧光寿命；时间相关单光子计数法；关键控制特性；标准化

Keywords

Nanomanufacturing;LuminescentNanomaterials;SemiconductorQuantumDots;FluorescenceLifetime;Time-CorrelatedSinglePhotonCounting;KeyControlCharacteristics;Standardization

正文

1.引言

半导体量子点是一类尺寸在1-10纳米范围内、具有量子限域效应的半导体纳米晶体。由于其独