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（正式版）DB13∕T 5696-2023 《基于高温反偏试验的GaN HEM∕T射频功率器件缺陷快速筛选方法》.docxVIP

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  • 2026-07-22 发布于重庆
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（正式版）DB13∕T 5696-2023 《基于高温反偏试验的GaN HEM∕T射频功率器件缺陷快速筛选方法》.docx

    ICS31.080CCSL40

    13

    河北省地方标准

    DB13/T5696—2023

    基于高温反偏试验的GaNHEMT射频功率器件缺陷快速筛选方法

    2023-05-06发布2023-06-06实施

    河北省市场监督管理局发布

    I

    DB13/T5696—2023

    目次

    前言 II

    引言 III

    1范围 1

    2规范性引用文件 1

    3术语和定义 1

    4文字符号 1

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