CN119574497A 一种太赫兹痕量分子指纹光谱的检测方法 (中央民族大学).pdfVIP

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  • 2026-07-22 发布于重庆
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CN119574497A 一种太赫兹痕量分子指纹光谱的检测方法 (中央民族大学).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119574497A

(43)申请公布日2025.03.07

(21)申请号202411769730.8

(22)申请日2024.12.04

(71)申请人中央民族大学

地址100081北京市海淀区中关村南大街

27号

(72)发明人杨玉平牛强胡佳睿

(74)专利代理机构北京路浩知识产权代理有限

公司11002

专利代理师霍向果

(51)Int.Cl.

G01N21/3586(2014.01)

权利要求书2页说明书10页附图5页

(54)发明名称

一种太赫兹痕量分子指纹光谱的检测方法

(57)摘

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