CN119880828A 一种基于双光梳和单光子计数的光谱测量系统及方法 (中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所).pdfVIP

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  • 2026-07-27 发布于重庆
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CN119880828A 一种基于双光梳和单光子计数的光谱测量系统及方法 (中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119880828A

(43)申请公布日2025.04.25

(21)申请号202411763833.3

(22)申请日2024.12.03

(71)申请人中国航空工业集团公司北京长城计

量测试技术研究所

地址100095北京市海淀区温泉镇环山村

108号

(72)发明人米庆改陈相淼高宇炜杨扬

王梓凝吕林杰米若鑫李晓峰

段小艳张磊武腾飞

(74)专利代理机构北京正阳理工知识产权代理

事务所(普通合伙)11639

专利代理师付雷杰

(51)Int.Cl.

G01N21/31(2006.01)

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