高频晶体振荡器性能检测控制系统.pptVIP

事例–晶体振荡器检测设备控制

【系统要求】

·判断对象物体位置,并能将位置坐标(x/y/θ)的数据发送到计算机

·4路脉冲位置控制

·PLC通过通信方式,接收来自计算机的动作指令/数据

·由计算机进行位置/角度等的运算,并发出控制指令.同步进行设备整体的监控

·I/O20～30点

【用途】

晶体振荡器检测设备中,器件摆放位置的检出和调整,使电流探针能够正确接触被检测的引脚.

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θ

【设备动作要求示意图】

承载平台

Table

X

Y

承载平台:

80(W)×120(H)mm

要求:最后精度≤20μm

晶体振荡器

OscillatorChip

检测器

探针

位置固定

上/下移动

检测器

探针

OscillatorChip

PINlead

enlarge

检测出承载平台的实际位置坐标后,调整X/Y/θ三轴位置,

使需要被检测芯片处于正确位置,探测器的2个探针准确接触到引线.

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