IEC TS 63263：2025 绕组线 试验方法 高频电压脉冲下的电气耐久性标准立项发展报告.docx

绕组线试验方法高频电压脉冲下的电气耐久性标准立项发展报告

StandardizationDevelopmentReport:Windingwires-Testmethods-Electricalenduranceunderhighfrequencyvoltageimpulses

摘要

随着电力电子技术的迅猛发展，特别是以碳化硅（SiC）、氮化镓（GaN）为代表的宽禁带半导体器件的广泛应用，电机驱动、逆变器及开关电源等设备的工作频率和电压变化率（dv/dt）显著提升。在此背景下，用于制造电机、变压器等电磁元器件的绕组线，其绝缘系统持续承受着高频、陡前沿的电压脉冲