CN119198775A 一种半导体材料缺陷检测方法、装置及计算机存储介质 （振电(苏州)医疗科技有限公司）.pdfVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119198775A

(43)申请公布日2024.12.27

(21)申请号202411734887.7

(22)申请日2024.11.29

(71)申请人振电（苏州）医疗科技有限公司

地址215000江苏省苏州市中国(江苏)自

由贸易试验区苏州片区苏州工业园区

星湖街218号苏州生物医药产业园一

期项目B1楼307单元

(72)发明人兰璐王强强朱琰秋夏炎

(74)专利代理机构苏州市中南伟业知识产权代

理事务所(普通合伙)32257

专利代理师张荣

(51)Int.Cl.

G01N21/95(2006.01)

G01N21/01(2006.01)