原创力文档半导体器件机械和气候试验方法第29部分：闩锁试验标准立项发展报告
EnglishTitle:StandardizationDevelopmentReport:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part29:Latch-uptest
摘要
关键词：半导体器件；闩锁试验；机械和气候试验；可靠性；国家标准；IEC标准；抗闩锁能力
Keywords:Semiconductordevices;Latch-uptest;Mechanicalandclimatictestmet
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