原创力文档半导体器件机械和气候试验方法第38部分：带存储的半导体器件的软错误试验方法标准立项发展报告
StandardizationDevelopmentReport:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part38:Softerrortestmethodforsemiconductordeviceswithmemory
摘要
关键词：软错误；单粒子效应；半导体器件；存储单元；机械与气候试验；可靠性；国家标准
Keywords：SoftError;SingleEventEff
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