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嵌入式存储器内建自测试新型应用研究.pdfVIP

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  • 2026-07-31 发布于北京
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嵌入式存储器内建自测试新型应用研究.pdf

    嵌入式器内建自测试的一种新型应用

    华南理工大学微电子闾晓晨

    嵌入式器在SoC面积中所占的比例越来越大成为SoC发展的一个显著特点

    :,,。

    由于本身单元密度很高嵌入式器比上面的其它元件更容易造成硅片成为影响成品

    ,,

    率的一个重要因素本文对采用MARCH-C算法的嵌入式器内建自测试进行了改进实现了对嵌入式存

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