CN120142477A 基于集成电路封装的分层缺陷检测方法及系统 (襄阳市认卡科技有限公司).pdfVIP

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  • 2026-08-02 发布于重庆
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CN120142477A 基于集成电路封装的分层缺陷检测方法及系统 (襄阳市认卡科技有限公司).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN120142477A

(43)申请公布日2025.06.13

(21)申请号202510405671.4

(22)申请日2025.04.02

(71)申请人襄阳市认卡科技有限公司

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