CN120278981A 一种基于两阶段边缘修复模型的电路板缺陷样本生成方法 (华南理工大学).pdfVIP

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  • 2026-08-03 发布于重庆
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CN120278981A 一种基于两阶段边缘修复模型的电路板缺陷样本生成方法 (华南理工大学).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN120278981A

(43)申请公布日2025.07.08

(21)申请号202510410510.4G06N3/0464(2023.01)

G06N3/08(2023.01)

(22)申请日2025.04.02

(71)申请人华南理工大学

地址510640广东省广州市天河区五山路

381号

(72)发明人阎旭罗家祥陈佳煊张桦亮

蓝浩文

(74)专利代理机构广州市华学知识产权代理有

限公司44245

专利代理师蔡克永

(51)Int.Cl

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