CN120253920A 波长色散x射线荧光光谱仪探测器偏压校正方法 (钢研纳克检测技术股份有限公司).pdfVIP

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  • 2026-08-05 发布于重庆
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CN120253920A 波长色散x射线荧光光谱仪探测器偏压校正方法 (钢研纳克检测技术股份有限公司).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN120253920A

(43)申请公布日2025.07.04

(21)申请号202510407137.7

(22)申请日2025.04.02

(71)申请人钢研纳克检测技术股份有限公司

地址100080北京市海淀区高梁桥斜街13

(72)发明人王世芳刘明博郑琪李程

杨博赞胡学强

(74)专利代理机构北京金杉知识产权代理有限

公司16291

专利代理师李享

(51)Int.Cl.

G01N23/223(2006.01)

G01N23/2202(2018.01)

权利要求书1页说

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