SJT 12035-2025 人工智能芯片 端侧深度学习芯片测试指标与测试方法标准立项发展报告.docxVIP

人工智能芯片端侧深度学习芯片测试指标与测试方法标准立项发展报告

StandardizationDevelopmentReport:AIChips-TestIndicatorsandTestMethodsforEnd-sideDeepLearningChips

摘要

关键词：端侧深度学习芯片；人工智能芯片；测试指标；测试方法；行业标准；SJ/T12035-2025；标准化发展

Keywords:End-sideDeepLearningChip;AIChip;TestIndicator;TestMethod;IndustryStandard;SJ/T12035-2025;StandardizationDevelopment

1.引言

1.1研究背景

人工智能（AI）技术正经历从云端向边缘端与终端下沉的深刻变革。以智能手机、智能家居、自动驾驶、工业视觉、可穿戴设备等为代表的应用场景，对端侧AI芯片提出了实时处理、低功耗、高能效及隐私保护等严苛需求。端侧深度学习芯片，作为专门用于在设备本地执行神经网络推理运算的集成电路，已成为产业竞争的制高点。据行业统计，全球端侧AI芯片市场规模预计在未来数年将以超过20%的年复合增长率持续扩大，市场参与主体日益多元，产品形态和技术路线层出不穷。

然而，在标准制定之前，端侧AI芯片的