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基于量子态层析的量子门保真度评估系统设计与测量优化

摘要

量子计算技术的飞速发展对量子门操作的精确性提出了极高要求。量子门保真度是衡量量子门性能的核心指标，其高效、准确的评估对于量子处理器校准与容错阈值验证至关重要。传统评估方法如随机基准测试虽高效但信息有限，而量子过程层析虽能完整刻画量子门，却面临测量次数随系统规模指数增长的“维度灾难”，导致评估效率低下、资源消耗巨大。

本课题旨在设计并实现一个基于量子态层析的量子门保真度评估系统，并重点优化其测量策略以提高评估效率。系统采用模块化设计，通过自动化流程完成从量子态制备、门操作、测量到数据分析的全过程。核心创新在于集成并优化了