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脑电子神经刺激器引起的机械性并发症多学科决策模式中国专家共识（2026版）

一、引言

1.背景与意义

(1)随着神经科学和生物医学工程技术的飞速发展，脑电子神经刺激器（BrainElectronicNeurostimulator,BEN）在治疗神经系统疾病中发挥着越来越重要的作用。据统计，全球范围内脑电子神经刺激器的年装机量已超过10万台，其中中国地区装机量以每年约20%的速度增长。脑电子神经刺激器通过向大脑特定区域发送电信号，调节神经活动，为帕金森病、癫痫、慢性疼痛等疾病患者带来了新的治疗选择。

(2)然而，脑电子神经刺激器的应用也伴随着一系列机械性并发症的风险。这些并发症可能包括植入部位感染、导线断裂、电极移位等，严重时甚至可能导致患者生命安全。据相关研究报道，脑电子神经刺激器植入术后并发症的发生率约为5%-10%，其中机械性并发症占比较高。这些并发症不仅增加了患者的痛苦，延长了治疗周期，还可能对患者的日常生活造成严重影响。

(3)为了提高脑电子神经刺激器植入术的安全性，降低并发症的发生率，国内外众多医疗机构和专家学者积极开展相关研究和临床实践。然而，由于涉及多学科、多领域，目前尚缺乏一个统一的标准和规范来指导临床医生进行并发症的预防和处理。在此背景下，制定一份关于脑电子神经刺激器引起的机械性并发症多学科决策模式的中国专家共识具有重