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- 2026-08-15 发布于上海
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基于多物理场耦合的Ⅲ族氮化物MOCVD生长数值模拟与优化策略
一、引言
1.1研究背景与意义
随着科技的飞速发展,半导体材料在现代电子学、光电子学等领域中扮演着至关重要的角色。Ⅲ族氮化物作为一类直接带隙宽禁带半导体材料,凭借其独特的物理与化学特性,如高电子迁移率、宽禁带、高热导率以及高化学稳定性等,在光电子器件、电力电子器件等众多领域展现出了巨大的应用潜力,成为半导体领域研究的热点之一。
Ⅲ族氮化物主要包括氮化镓(GaN)、氮化铝(AlN)和氮化铟(InN)等,它们的带隙范围较宽,从0.7eV(氮化铟)到6.2eV(氮化铝)不等,这一特性使得它们在光电子器件、发光二极管及太阳能电池等领域具有广泛的应用前景。例如,氮化镓因其在可见光到近红外光谱范围内良好的发光效率,被广泛应用于全色发光二极管(LED),为照明、显示等领域带来了革命性的变化;作为高效的光电转换材料,氮化镓基太阳能电池展现出巨大的市场潜力,有望在未来太阳能发电领域发挥重要作用。此外,Ⅲ族氮化物还具有优异的热电性能,如氮化镓的热导率高达140W/mK,这使得它们在热管理方面具有潜在的应用价值。在高频、高压电子器件领域,Ⅲ族氮化物凭借其强击穿电场、高电子迁移率及高饱和漂移速度等优势,为5G通信、新能源汽车等新兴产业的发展提供了关键支撑。
金属有机化学气相沉积(MOCVD)技术作为制备Ⅲ族氮化物薄膜的
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