锂离子电池用铜箔电阻率的测定 四探针法标准化发展研究报告.docxVIP

锂离子电池用铜箔电阻率的测定四探针法

ρ=(π/ln2)×(V/I)×t×F(d/s)×F(t/s)×F(W/s)

摘要

其中，F(d/s)为试样直径修正因子，F(t/s)为厚度修正因子，F(W/s)为宽度修正因子。对于锂离子电池用铜箔，通常试样尺寸远大于探针间距，修正因子可近似为1，公式进一步简化为：ρ=(π/ln2)×(V/I)×t=4.5324×(V/I)×t式中：ρ为电阻率（Ω·m）；V为内侧探针间电压（V）；I为外侧探针间施加的电流（A）；t为试样厚度（m）。3.2四探针法的技术优势相较于传统的二探针法（两电极法），四探针法具有以下显著优势：（1）消除接触电阻影响。四探针法将电流回路与电压测量回路分离，电压探针几乎无电流通过，从而有效消除了探针与试样之间的接触电阻对测量结果的影响。（2）适用于薄片试样。对于铜箔这类厚度极小的薄片材料，四探针法可以在不破坏试样的前提下实现快速测量。（3）测量精度高。在适当的电流和探针间距条件下，四探针法的测量精度可达±1%以内，满足高端铜箔质量控制的需求。（4）操作便捷高效。四探针测试仪已实现商用化和自动化，测试速度快，适合生产线在线检测和大批量样品检测。3.3测试条件的关键影响因素在铜箔电阻率的四探针法测定中，以下因素对测量结果具有显著影响，标准修订中需重点规范：