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双层量子点中带电荷激子的性质及调控机制研究

一、引言

1.1研究背景

量子点，作为一种在三个空间方向上对激子进行束缚的半导体纳米结构，常被视作“人造原子”。其尺寸通常介于2到20纳米之间，在这一纳米尺度下，量子点呈现出一系列独特的量子效应，如量子尺寸效应、表面效应、多激子产生效应等，这些效应赋予了量子体系独特的物理化学性质，使其展现出许多与宏观材料截然不同的新颖特性。量子点的概念自20世纪90年代提出后，便迅速成为材料科学和凝聚态物理领域的研究热点。随着制备技术的不断进步，量子点在多个领域展现出了巨大的应用潜力。

双层量子点作为低维半导体结构材料中的重要一员，由两个相互耦合的量子点组成。这种独特的结构不仅允许电子和空穴在两个量子点之间隧穿，还能通过外部电场精确调节其耦合强度和能级结构。在双层量子点中，由于量子限域效应和库仑相互作用的共同作用，使得带电荷激子的行为变得尤为复杂且有趣。带电荷激子，作为激子概念的一种延伸，是指在激子的基础上束缚了额外的电荷载流子，如带正电荷激子（激子束缚第二个空穴）以及激子束缚于带正电荷施主杂质等情况。这些特殊的束缚态源于低维半导体结构材料制备技术的持续发展，它们的出现为研究量子多体物理现象提供了理想的平台。

对带电荷激子在双层量子点中的性质进行研究，不仅能够深入揭示量子多体系统中复杂的相互作用和量子关联，还能为新型光电器件的开