CN119619654A 用于fpga系统在辐射中单粒子效应诱发故障率的预测方法 (中国航空综合技术研究所).pdfVIP

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  • 2026-08-20 发布于重庆
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CN119619654A 用于fpga系统在辐射中单粒子效应诱发故障率的预测方法 (中国航空综合技术研究所).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119619654A

(43)申请公布日2025.03.14

(21)申请号202411659948.8

(22)申请日2024.11.20

(71)申请人中国航空综合技术研究所

地址100028北京市朝阳区东直门外京顺

路7号

(72)发明人陈宇游亚飞边智张宇

刘泽萌贾润川杨昭君

(74)专利代理机构北京孚睿湾知识产权代理事

务所(普通合伙)11474

专利代理师李春晓

(51)Int.Cl.

G01R31/00(2006.01)

G01R31/26(2020.01)

权利要求

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