CN119153351A 金属膜厚度测量方法、装置、设备、抛光方法和存储介质 (华海清科股份有限公司).pdfVIP

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  • 2026-08-21 发布于重庆
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CN119153351A 金属膜厚度测量方法、装置、设备、抛光方法和存储介质 (华海清科股份有限公司).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119153351A

(43)申请公布日2024.12.17

(21)申请号202411628961.7

(22)申请日2024.11.15

(71)申请人华海清科股份有限公司

地址300350天津市津南区咸水沽镇聚兴

道11号

(72)发明人路新春田芳馨魏艺璇王超

刘杰

(51)Int.Cl.

H01L21/66(2006.01)

B24B37/015(2012.01)

B24B49/10(2006.01)

B24B37/10(2012.01)

B24B37/34(2012.01)

B24B57/02(2006.01)

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