IEC TS 62804-12025 光伏组件.潜在诱发退化检测的试验方法.第1部分晶体硅标准立项发展报告.docx

光伏组件潜在诱发退化检测的试验方法第1部分：晶体硅标准立项发展报告

StandardizationDevelopmentReport:Photovoltaic(PV)Modules-TestMethodsfortheDetectionofPotential-InducedDegradation-Part1:CrystallineSilicon

摘要

随着全球光伏发电装机容量的持续快速增长，光伏组件在实际运行中的长期可靠性与安全性已成为行业关注的焦点。潜在诱发退化（Potential-InducedDegradation，PID）作为影响晶体硅光伏组