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【芯片光谱测试系统的实现分析案例1100字】.docx

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    芯片光谱测试系统的实现分析案例

    目录

    芯片光谱测试系统的实现分析案例 1

    1.1实验平台的搭建 1

    1.1.1实验所用器件 1

    1.2入射光偏振态的测量 4

    1.1实验平台的搭建

    本实验要通过最大的插入损耗及最大的不平衡性对90°光混频器的传输特

    性进行表征。因此要对光混频器的输入端光功率及各个输出端的光功率进行测量。实验的结构图如图8。

    偏振控制器

    偏振控制器

    偏振控制环

    TE/TM

    光波万用表

    2×2

    耦合器

    可见光激光器

    可调激光源

    耦合光纤

    耦合光纤

    待测器件

    O00

    功率计

    图8

    1.1.1实验所用器件

    实验平台搭建中用到的激光源及功率计使用A

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