IEC TS 62607-11-12025 纳米制造 关键控制特性 第11-1部分电磁兼容性 纳米材料的屏蔽有效性近场探针法标准立项发展报告.docxVIP

纳米制造关键控制特性第11-1部分：电磁兼容性纳米材料的屏蔽有效性：近场探针法标准立项发展报告

StandardizationDevelopmentReport:Nanomanufacturing-KeyControlCharacteristics-Part11-1:ElectromagneticCompatibility-ShieldingEffectivenessofNanomaterials:Near-FieldProbeMethod

摘要

随着电子信息技术向高频化、集成化和轻薄化方向快速发展，电磁干扰（EMI）问题日益突出，对电磁屏蔽材料的性能提出了更高要求。纳米材料因其独特的尺寸效应、表面效应和宏观量子隧道效应，在电磁屏蔽领域展现出巨大的应用潜力。然而，由于缺乏统一的屏蔽效能测试方法和评价标准，不同研究机构和企业所获得的测试数据缺乏可比性，严重制约了纳米电磁屏蔽材料的产业化进程。在此背景下，国际电工委员会（IEC）发布IECTS62607-11-1:2025《纳米制造关键控制特性第11-1部分：电磁兼容性纳米材料的屏蔽有效性：近场探针法》，为纳米材料电磁屏蔽性能的评估提供了规范化技术依据。本报告对该标准的立项背景、技术内容、适用范围及行业影响进行系统分析，重点介绍近场探针法在纳米材料屏蔽效能测试中的技术原理与方法优势