IEC 60749-242025 半导体器件机械和气候试验方法第24部分加速防潮无偏试验标准立项发展报告.docx

半导体器件机械和气候试验方法第24部分：加速防潮无偏试验标准立项发展报告

StandardizationDevelopmentReport:SemiconductorDevices-MechanicalandClimaticTestMethods-Part24:AcceleratedMoistureResistance-UnbiasedHAST

摘要

随着半导体器件在汽车电子、航空航天、工业控制及消费电子等领域的广泛应用，器件在高温高湿环境下的长期可靠性已成为行业关注的核心问题。加速防潮无偏试验（UnbiasedHAST）作为评估塑封半导体器件耐湿性能