原创力文档半导体器件机械和气候试验方法第23部分：高温工作寿命标准立项发展报告
StandardizationDevelopmentReport:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part23:Hightemperatureoperatinglife
摘要
关键词：半导体器件；高温工作寿命；可靠性试验；IEC60749；标准化；加速寿命试验
Keywords:Semiconductordevices;Hightemperatureoperatinglife;Reliabilit
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