以史为鉴，AI催生测试机国产化良机.pptxVIP

Al硬科技和应用系列深度(二)——

以史为鉴，AI催生测试机国产化良机

证券分析师：张世杰

分析师登记编号：S1190523020001

E-MAIL:zhangsj@

电子|行业深度

太平洋证券

PACIFICSECURITIES

报告摘要

测试环节贯穿全生命周期，顺产业趋势头部厂商形成强大壁垒。测试环节贯穿芯片制造全生命周期，

是保障芯片良率与可靠性的关键，是芯片良率的“守门人。2025年，全球ATE(自动测试设备)规模超100亿美金，2025-2027维持双位数复合增长。头部公司分别抓住计算机控制IC时代、区域半导体产业崛起、SoC测试产业兴起等产业浪潮，形成