2026年现代材料测试技术期末试题及答案.docVIP

2026年现代材料测试技术期末试题及答案

2026年现代材料测试技术期末试题及答案

一、填空题（每题2分，共20分）

1.X射线衍射技术主要用于测定材料的______和______。

2.扫描电子显微镜（SEM）利用______来成像，可以观察到材料的______。

3.原子力显微镜（AFM）通过______与样品表面相互作用来成像，适用于观察______。

4.光谱分析技术中，原子吸收光谱法主要用于测定样品中的______。

5.热分析技术中，差示扫描量热法（DSC）主要用于研究材料的______。

6.红外光谱法主要用于分析材料的______。

7.核磁共振（NMR）技术主要用于研究材料的______。

8.电子显微镜（TEM）利用______来成像，可以观察到材料的______。

9.离子束分析技术中，二次离子质谱（SIMS）主要用于测定材料的______。

10.表面增强拉曼光谱（SERS）可以显著增强拉曼信号，适用于分析______。

二、判断题（每题2分，共20分）

1.X射线衍射技术可以用于测定材料的晶体结构。（√）

2.扫描电子显微镜（SEM）的分辨率比透射电子显微镜（TEM）低。（√）

3.原子力显微镜（AFM）可以在真空环境下工作。（×）

4.原子吸收光谱法