CN119247107A 一种芯片修调功能测试方法、装置、设备及介质 (杭州暖芯迦电子科技有限公司).pdfVIP

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  • 2026-08-29 发布于重庆
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CN119247107A 一种芯片修调功能测试方法、装置、设备及介质 (杭州暖芯迦电子科技有限公司).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119247107A

(43)申请公布日2025.01.03

(21)申请号202411606245.9

(22)申请日2024.11.12

(71)申请人杭州暖芯迦电子科技有限公司

地址310023浙江省杭州市余杭区五常街

道联创街188号4幢6楼

(72)发明人曹振杨佳威陈南

(74)专利代理机构北京集佳知识产权代理有限

公司11227

专利代理师李亚茹

(51)Int.Cl.

G01R31/28(2006.01)

G01R1/04(2006.01)

权利要求书2页说明书7页附图6页

(54)

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