原创力文档材料分析方法;;;;;;;;;;;;;;当X射线管压高于靶材相应的某一特征值UK时，在某些特定波长位置上，将出现一系列强度很高、波长范围很窄的线状光谱，称为特征谱或标识谱，见图1-4；其波长与阳极靶材原子有确定关系，
见式(1-8)，故可作为靶材的标志和特征式中,K2和?是常数。表明阳极靶材的原子序数越大，同一线系的特征谱波长越短。;;;;;;;;如图1-6，强度为I0的X射线照射厚度为t均匀物质上，穿过深度为x处的dx厚度时的强度衰减量dIx/Ix与dx成正比
材料分析方法;;;;;;;;;;;;;;当X射线管压高于靶材相应的某一特征值UK时，在某些特定波长位置上，将出现一系列强度很高、波长范围很窄的线状光谱，称为特征谱或标识谱，见图1-4；其波长与阳极靶材原子有确定关系，
见式(1-8)，故可作为靶材的标志和特征式中,K2和?是常数。表明阳极靶材的原子序数越大，同一线系的特征谱波长越短。;;;;;;;;如图1-6，强度为I0的X射线照射厚度为t均匀物质上，穿过深度为x处的dx厚度时的强度衰减量dIx/Ix与dx成正比
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