《印制电路板及其互连结构用材料试验方法 第2-808部分: 热瞬态法测定组件的热阻》标准立项修订与发展报告.docxVIP

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  • 2026-09-01 发布于北京
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《印制电路板及其互连结构用材料试验方法 第2-808部分: 热瞬态法测定组件的热阻》标准立项修订与发展报告.docx

《印制电路板及其互连结构用材料试验方法第2-808部分:热瞬态法测定组件的热阻》标准立项修订与发展报告

印制电路板及其互连结构用材料试验方法第2-808部分:热瞬态法测定组件的热阻标准发展报告

TestMethodsforMaterialsforPrintedCircuitsBoardandOtherInterconnectionStructures–Part2-808:ThermalResistanceofanAssemblybyThermalTransientMethod

摘要

随着电子信息技术的高速发展,印制电路板(PCB)及其互连结构作为电子产品的核心载体,其热管理性能直接关系到电子组件的可靠性、寿命与安全性。在5G通信、新能源汽车、高性能计算等应用场景中,功率密度持续攀升,对组件热阻的精确测定提出了更高要求。在此背景下,国家标准《印制电路板及其互连结构用材料试验方法第2-808部分:热瞬态法测定组件的热阻》(标准计划号:2026001324)正式立项制定。本标准修改采用IEC国际标准IEC61189-2-808:2024,由全国印制电路标准化技术委员会(TC47)归口,主管部门为工业和信息化部(电子),主要起草单位包括工业和信息化部电子第五研究所、中国电子技术标准化研究院和苏州国家实验室。标准规定了用热瞬态法测定由

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