《LED显示 第3-3部分：微型发光二极管芯片 电致发光光电性能测试方法》标准立项修订与发展报告.docxVIP

《LED显示第3-3部分：微型发光二极管芯片电致发光光电性能测试方法》标准立项修订与发展报告

LED显示第3-3部分：微型发光二极管芯片电致发光光电性能测试方法国家标准制定项目发展报告

LEDDisplay—Part3-3:MicroLEDChips—TestMethodsforElectroluminescentOptoelectronicPerformanceNationalStandardDevelopmentReport

---

摘要

随着新型显示技术在全球范围内的迅猛发展，微型发光二极管（MicroLED）凭借其在高亮度、高对比度、低功耗、长寿命及可无缝拼接等方面的显著优势，被视为继LCD和OLED之后最具发展潜力的下一代显示技术。然而，MicroLED芯片尺寸微小（通常小于100微米），其电致发光光电性能的测试面临设备精度要求高、测试条件不统一、测试方法缺乏规范等突出问题，严重制约了产业的高质量发展。本报告基于国家标准项目《LED显示第3-3部分：微型发光二极管芯片电致发光光电性能测试方法》（项目编号：2026004447）的立项背景与制定内容，系统阐述了该标准制定的必要性、主要技术内容、起草单位构成及产业应用前景。该标准由全国电子显示器件标准化技术委员会（TC547）归口管理，主管部门为工业和信息化部（电子），主要