集成电路电磁发射的测量第8部分:辐射发射的测量IC带状线法标准立项发展报告
StandardizationDevelopmentReport:IntegratedCircuits-MeasurementofElectromagneticEmissions-Part8:MeasurementofRadiatedEmissions-ICStriplineMethod
摘要
随着集成电路(IC)工作频率持续攀升、集成度不断提高,电磁兼容(EMC)问题已成为制约电子系统可靠性与安全性的关键因素。辐射发射测量作为IC电磁兼容性评估的核心环节,对准确度、可重
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